Sistema di campionamento tramite laser abbinato ad ICP-MS (spettrometro di massa con sorgente al plasma ad accoppiamento induttivo). Lo strumento utilizza la quarta armonica (266 nm) di un laser Nd-YAG per campionare la superficie di materiali solidi ed inviare il materiale ablato allo strumento ICP-MS per essere analizzato.
Azienda Produttrice:
NEW WAVE RESEARCH COMPANY
Data di acquisizione:
(gennaio 1, 2006 - )
Anno messa in esercizio:
2006