Riconstruzione 3D vision-based di immagini acquisite da microscopio elettronico a scansione

In tutte le tecniche microscopiche convenzionali il prodotto finale è una immagine 2D. Nel caso particolare della microscopia elettronica a scansione (SEM) è possibile recuperare il contenuto relativo alla terza dimensione integrando l’informazione contenuta in due o più immagini.
E’ stato sviluppato un programma ad hoc, interamente sviluppato con strumenti e linguaggi freeware, in grado di usare la differenza di parallasse entro una stereo-coppia per ricostruire la superficie del campione in 2½D e registrarla in un formato standard VRML o OBJ. Una rete neurale interna ed una serie di accorgimenti implementativi permettono al programma di raggiungere una precisione nel point-matching migliore del 99.99% ed una qualità visuale fotorealistica. E’ possibile misurare distanze, altezze, lunghezze, dislivelli, angoli, aree e volumi. Il programma è correntemente in uso presso il DMU e viene applicato a diverse linee di ricerca ultrastrutturale.