Charge collection properties of X-ray irradiated monolithic active pixel sensors (vol 552, pg 118, 2005)
Articolo
Data di Pubblicazione:
2006
Tipologia CRIS:
Articolo su Rivista
Keywords:
silicon pixel detectors; back-thinning; radiation hardness
Elenco autori:
Deveaux, M; Berst, J. D.; DE BOER, W; Caccia, Massimo; Claus, G; Deptuch, G; Dulinski, W; Gaycken, G; Grandjean, D; Jungermann, L; Riester, J. L.; Winter, M.
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